成像设备
EddyCus® map 2530系列
- 非接触式
- 快速和精确的测量
- 导电薄膜的高分辨率制图
- 对高达300×300毫米(12×12英寸)的基材进行成像
- 隐蔽和封装的导电层的表征,甚至是隐蔽和封装的导电层的表征
- 各种软件集成的分析功能
- 测量数据保存和输出功能
- 缺陷检测和涂层分析
- 非接触式
- 快速和精确的测量
- 导电薄膜的高分辨率制图
- 对高达300×300毫米(12×12英寸)的基材进行成像
- 隐蔽和封装的导电层的表征,甚至是隐蔽和封装的导电层的表征
- 各种软件集成的分析功能
- 测量数据保存和输出功能
- 缺陷检测和涂层分析
非接触片状电阻、金属层厚度、电阻率和电各向异性绘图装置
EddyCus® map 2530系列在非接触模式下自动测量大型样品的薄层电阻,最大可达300 x 300 mm²(12 x 12英寸)。在手动定位样品后,设备会自动测量并显示整个样品区域的薄层电阻的精确图谱。测量设置允许轻松灵活地选择低于1分钟的快速测量时间或超过10万个测量点的高空间测量分辨率。
特征
- 技术:非接触式涡流
- 通过多点测绘成像
- 定位区域。300 mm x 300 mm
- 采样区域:300 x 300 mm
- 推荐的样品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米
类型
软件和设备控制
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