手持设备 – EddyCus® TF portable

手持设备EddyCus® TF portable 1010系列 小型和便携式的测量设备 手动测量 即时实时测量 通过蓝牙进行数字数据采集和数据传输 隐藏和封装的导电层的表征 要求报价 Previous Next 小型和便携式的测量设备 手动测量 即时实时测量 通过蓝牙进行数字数据采集和数据传输 隐藏和封装的导电层的表征 用于测量板材电阻、金属层厚度、电导率和辐射率的接触式手持设备 EddyCus® TF portable 1010是一种方便的便携式测量设备,用于在生产或现场对大型玻璃和铝箔进行快速接触测量,例如用于生产后的快速质量检查或作为进货检验。这款手持式设备甚至可以测量隐藏和封装的层。它是一个易于使用的设备,通过触摸显示屏进行控制。 类型 片状电阻测试仪 – EddyCus® TF便携式1010SR (欧姆/平方,OPS) 金属层厚度测试仪 – EddyCus® TF portable 1010MT (µm, nm) 电阻率/电导率测试仪 – EddyCus® TF 便携式 1010RM (mOhm*cm, MS/m) 发射率测试仪 – EddyCus® TF便携式1010E(e) 应用 手动质量控制 来访检查 出境货物的检查 接触式单点测量 从150 x […]

单点测量装置 – EddyCus® TF lab 2020

单点测试装置EddyCus® TF lab 2020系列 非接触式实时测量 导电薄膜的精确测量 隐藏和封装的导电层的表征 测量数据保存和输出功能 要求报价 Previous Next 非接触式实时测量 导电薄膜的精确测量 隐藏和封装的导电层的表征 测量数据保存和输出功能 用于单点测量的非接触式板材电阻和层厚测量装置 EddyCus® TF lab 2020系列可以对导电薄膜进行手动单点测量,并以非接触模式对薄金属层进行层厚测量。这个紧凑的台式设备是快速和准确测量200 x 200 mm²(8 x 8英寸)以下样品的理想选择。除了测量导电薄层外,还可以分析掺杂的晶圆和导电聚合物。 Characteristics Sheet resistance Thickness measurement of metal layers Single point measurement Quality control, input and output control Sample sizes: 10 x 10 mm² to 200 x 200 mm² (0.5 x […]

单点测量装置 – EddyCus® TF lab 4040

单点测试装置EddyCus® TF lab 4040系列 非接触、实时、坚固 准确和非常可重复的测量 测量质量高 对敏感层没有伤害 不穿 用软件指导手工制图,实现系统化的质量保证 许多测量数据的保存和输出功能 节省空间的智能显示器集成 使用客户程序的软件开发工具包测试自动化 要求报价 Previous Next 非接触、实时、坚固 准确和非常可重复的测量 测量质量高 对敏感层没有伤害 不穿 用软件指导手工制图,实现系统化的质量保证 许多测量数据的保存和输出功能 节省空间的智能显示器集成 使用客户程序的软件开发工具包测试自动化 非接触片状电阻、金属层厚度、电阻率和电各向异性绘图装置 EddyCus® TF lab 4040系列专门用于中等尺寸基材的非接触单点测量。这个灵活适用的台式设备可以根据其设置精确手动测量片状电阻、金属厚度、光学透明度或电(各向同性)。最常见的应用包括测量透明和非透明的导电薄层、晶圆或金属片。 特征 技术。非接触式电涡流(各种类型的传感器 单点测量 定位区域。760毫米 x 660(开放)毫米 推荐的样品尺寸。10 x 10 mm² 至 400 x 400 mm² (0.5 x 0.5 英寸至 16 x 16 英寸) 类型 片状电阻 […]

成像设备 – EddyCus® TF map 2525

成像设备 EddyCus® TF map 2525系列 非接触式 快速和精确的测量 导电薄膜的高分辨率制图 对高达250×250毫米(10×10英寸)的基材进行成像 缺陷检测和涂层分析 隐蔽和封装的导电层的表征,甚至是隐蔽和封装的导电层的表征 各种软件集成的分析功能 测量数据保存和输出功能 要求报价 Previous Next 非接触式 快速和精确的测量 导电薄膜的高分辨率制图 对高达250×250毫米(10×10英寸)的基材进行成像 缺陷检测和涂层分析 隐蔽和封装的导电层的表征,甚至是隐蔽和封装的导电层的表征 各种软件集成的分析功能 测量数据保存和输出功能 非接触片状电阻、金属层厚度、电阻率和电各向异性绘图装置 EddyCus® TF map 2525系列在非接触模式下自动对高达250 x 250 mm²(10 x 10英寸)的样品进行特性成像。在手动定位样品后,设备自动测量并显示整个样品区域的特性分布。测量设置允许轻松和灵活地选择1分钟以下的快速测量时间或每个样品超过50,000个测量点的高空间测量分辨率。由此产生的图谱提供了对透明和非透明层或晶圆和金属片的均匀性和质量的真实见解。该台式设备可以根据其设置对片材电阻、金属厚度或光学透明度进行精确成像。 特征 技术:非接触式涡流 通过多点测绘成像 薄层均匀性控制 质量控制,输入和输出控制 定位区域。300 mm x 270 mm 采样区。250 x 250 mm(可扩展至280 x 280 mm) 推荐的样品尺寸。1英寸到10英寸或25到250毫米 类型 片状电阻成像 – […]

成像设备 – EddyCus® TF map 2530

成像设备 EddyCus® TF map 2530系列 非接触式 快速和精确的测量 导电薄膜的高分辨率制图 对高达300×300毫米(12×12英寸)的基材进行成像 隐蔽和封装的导电层的表征,甚至是隐蔽和封装的导电层的表征 各种软件集成的分析功能 测量数据保存和输出功能 缺陷检测和涂层分析 要求报价 Previous Next 非接触式 快速和精确的测量 导电薄膜的高分辨率制图 对高达300×300毫米(12×12英寸)的基材进行成像 隐蔽和封装的导电层的表征,甚至是隐蔽和封装的导电层的表征 各种软件集成的分析功能 测量数据保存和输出功能 缺陷检测和涂层分析 非接触片状电阻、金属层厚度、电阻率和电各向异性绘图装置 EddyCus® TF map 2530系列在非接触模式下自动测量大型样品的薄层电阻,最大可达300 x 300 mm²(12 x 12英寸)。在手动定位样品后,设备会自动测量并显示整个样品区域的薄层电阻的精确图谱。测量设置允许轻松灵活地选择低于1分钟的快速测量时间或超过10万个测量点的高空间测量分辨率。 特征 技术:非接触式涡流 通过多点测绘成像 定位区域。300 mm x 300 mm 采样区域:300 x 300 mm 推荐的样品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米 类型 片状电阻成像 – EddyCus® TF地图2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS] […]

成像设备 – EddyCus® TF map 5050

成像设备EddyCus® TF map 5050系列 非接触式成像 快速和准确 1毫米间距的高分辨率成像(也有0.25至10毫米的) 采样面积为500 x 500毫米(20 x 20英寸) 先进的层均匀性分析和缺陷镜 隐藏和封装的导电层的表征 精深的软件集成分析功能 系统的质量控制,进货检验,出货检验 要求报价 Previous Next 非接触式成像 快速和准确 1毫米间距的高分辨率成像(也有0.25至10毫米的) 采样面积为500 x 500毫米(20 x 20英寸) 先进的层均匀性分析和缺陷镜 隐藏和封装的导电层的表征 精深的软件集成分析功能 系统的质量控制,进货检验,出货检验 非接触式板材电阻、金属层厚度、电阻率和各向异性成像装置 EddyCus® TF map 5050系列是一个高分辨率的非接触式成像设备系列,用于取样区域达500 x 500毫米(20 x 20英寸)。这个台式设备在不同的测量点上自动测量,通常X和Y的间距为1毫米(40密耳),产生精确的映射。该系统每秒飞快地获取数百个测量值,从而产生高分辨率的图像,每个样品包含多达25万个测量点。台式设备允许根据其设置对金属厚度、板材电阻或电各向异性进行精确成像。由此产生的属性图像提供了对金属层均匀性和缺陷密度的深入了解,因此为材料和工艺优化提供了深刻的基础。应用涉及溅射、蒸发、ALD、CVD、电镀或掺杂和退火过程的质量保证。 特征 技术:非接触式涡流传感器 采样区域:500 x 500 mm 推荐的样品尺寸。1到20英寸/25毫米到500毫米 过程评估 类型 片状电阻成像 – EddyCus® TF地图5050SR [mOhm/sq, Ohm/sq, […]

在线监测系统 – EddyCus® TF inline

在线监测系统 EddyCus® TF inline系列 非接触式实时测量 测量速度高,可达 1,000 次/秒。 固定式传感器安装或穿越式传感器安装 每个系统集成1-99个监控车道 大气或真空环境下的过程控制 在许多应用中,可以进行非常接近基材边缘的测量 在不断变化的环境中通过温度补偿测量实现长期稳定 与测试材料的距离较大(例如,60毫米/2.4英寸的间隙) 覆盖的导电层或封装的基板的表征 众多的软件集成了分析和统计功能 通过EddyCus RampUp软件轻松设置,包括系统校准的向导。 无磨损 要求报价 Previous Next 非接触式实时测量 测量速度高,可达 1,000 次/秒。 固定式传感器安装或穿越式传感器安装 每个系统集成1-99个监控车道 大气或真空环境下的过程控制 在许多应用中,可以进行非常接近基材边缘的测量 在不断变化的环境中通过温度补偿测量实现长期稳定 与测试材料的距离较大(例如,60毫米/2.4英寸的间隙) 覆盖的导电层或封装的基板的表征 众多的软件集成了分析和统计功能 通过EddyCus RampUp软件轻松设置,包括系统校准的向导。 无磨损 用于过程控制的非接触片状电阻、层厚和电各向异性测量解决方案 EddyCus TF在线系列以非接触方式测量各种基质的层属性,如金属层厚度、片状电阻、发射率、残留水分或克重。相关的基底是玻璃、箔、纸、晶圆、塑料或陶瓷。监测是通过永久测量或通过触发事件来完成的,以便在快速移动的涂层过程中获得等距离的结果。监测解决方案可以在大气或真空条件下实施。使用涡流技术的过程受益于高采样率。测量结果可以通过客户的软件提供给过程控制系统。此外,SURAGUS还提供监测软件EddyCus EC Control,它可以可视化、存储和分析计量数据。 类型 EddyCus TF inline SR – 片状电阻监测(包括发射率) EddyCus TF inline MT – 金属厚度监测 […]

在线监测系统 – EddyCus® TF inline WT

钢丝和钢带测试 在线监测系统 EddyCus® TF inline WT 质量保证 过程控制 产量提高 通过有据可查的线轴/卷轴报告来获得客户信任 磁化 惊人的 直径/宽度为0.01至10毫米(其他根据要求) 扁平和圆形材料 0.1赫兹至50千赫兹,适用于高达50米/秒的运动 要求报价 质量保证 过程控制 产量提高 通过有据可查的线轴/卷轴报告来获得客户信任 磁化 惊人的 直径/宽度为0.01至10毫米(其他根据要求) 扁平和圆形材料 0.1赫兹至50千赫兹,适用于高达50米/秒的运动 用于过程控制的非接触式导电线和导电带测试解决方案 EddyCus® inline WT系列是为非接触的连续在线测试任何导电丝尖锐材料而设计的。这个解决方案可以实现过程控制,提高产量,以及进货和出货的检查。 下载 片状电阻-EddyCus® TF inline WT[欧姆/平方] 每一长度的电阻-EddyCus® TF inline WT[欧姆/米] 电阻率-EddyCus® TF inline WT [Ohm cm] 厚度或体积-EddyCus® TF inline WT [nm, µm] 联系我们 如果你有任何进一步的问题或想要一个报价 对于产品要求,请通过以下方式联系我们 联系表格。 电子邮件(sales@suragus.com) […]

全宽度在线监测系统 – EddyCus® TF inline Sensorline

全宽在线监测系统eEddyCus® TF inline Sensorline 非接触式实时测量 测量速度高,可达50次/秒 固定式传感器安装或穿越式传感器安装 每个系统集成1-99个监控车道 大气或真空环境下的过程控制 在许多应用中,可以进行非常接近基材边缘的测量 在不断变化的环境中通过温度补偿测量实现长期稳定 与测试材料的距离较大(例如,60毫米/2.4英寸的间隙) 覆盖的导电层或封装的基板的表征 众多的软件集成了分析和统计功能 通过EddyCus RampUp软件轻松设置,包括系统校准的向导。 Wear- free 要求报价 Previous Next 非接触式实时测量 测量速度高,可达50次/秒 固定式传感器安装或穿越式传感器安装 每个系统集成1-99个监控车道 大气或真空环境下的过程控制 在许多应用中,可以进行非常接近基材边缘的测量 在不断变化的环境中通过温度补偿测量实现长期稳定 与测试材料的距离较大(例如,60毫米/2.4英寸的间隙) 覆盖的导电层或封装的基板的表征 众多的软件集成了分析和统计功能 通过EddyCus RampUp软件轻松设置,包括系统校准的向导。 Wear- free 用于过程控制的全面积非接触片状电阻和层厚测量解决方案 涡流全区域监测是通过使用EddyCus TF阵列解决方案来实现的。SURAGUS提供可堆叠的8个传感器模块,根据其配置,可以对多达128个测量通道进行在线监测。 EddyCus全面积的在线解决方案有助于监测小面积和大面积涂层的整个宽度。这使我们能够最佳地跟踪整个产品和工艺质量。因为你只能改善你能测量的东西,我们的解决方案使你能够优化你的产品和工艺质量。这使你比你的竞争对手有很大的优势。使用我们的软件,很容易对您的数据进行完美的分析。监测过程和产品数据真的很简单,让你在监测产品质量和过程数据的同时改善你的产出。 EddyCus TF在线系列测量层属性,如金属层厚度或在各种基质上非接触的片状电阻。  典型的基材是玻璃、箔、纸、晶片、塑料或陶瓷。测量是通过永久测量或通过触发事件来获得快速移动的涂层过程中的等距结果,或测量小试样上的特定位置。可以在大气和真空中进行监测。测量是通过高采样率获得的,可以直接提供给过程控制系统和客户软件。此外,SURAGUS还提供监测软件EddyCus TF控制,它可以可视化、存储和分析计量数据。 下载 传单 – EddyCus® TF inline Sensorline系列 联系我们 如果你有任何进一步的问题或想要一个报价 对于产品要求,请通过以下方式联系我们 联系表格。 电子邮件(sales@suragus.com) […]