重量和克重测量

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通过涡流测量涂层重量

导电涂层的重量通常由非接触式的涡流薄膜传感器测量。这种技术将涡流诱导到导电涂层中,使其产生电磁场(EMF),由电磁场探测器或直接由涡流传感器测量。获得的信号与材料的数量有关,这也与涂层的重量有关。这种方法是 “切割法 “的替代方法,因为它是非破坏性的,无需准备试样就能得到导电材料的重量。

手持设备

EddyCus® TF portable 1010是一种方便的便携式测量设备,用于在生产或现场对大型玻璃和铝箔进行快速接触测量,例如用于生产后的快速质量检查或作为进货检验。这款手持式设备甚至可以测量隐藏和封装的层。它是一个易于使用的设备,通过触摸显示屏进行控制。

单点设备

EddyCus® TF lab 20204040系列可以对导电薄膜进行手动单点测量,并以非接触模式对薄金属层进行层厚测量。这种紧凑的台式设备是快速准确测量200 x 200 mm² (8 x 8英寸)至400 x 400 mm² (12 x 12英寸)样品的理想选择。除了测量薄的导电层外,还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。

成像设备

EddyCus® TF map系列在非接触模式下,自动对高达500 x 500 mm²(20 x 20英寸)的样品进行特性成像。在手动定位样品后,设备自动测量并显示整个样品区域的特性分布。测量设置允许轻松和灵活地选择1分钟以下的快速测量时间或每个样品超过50,000个测量点的高空间测量分辨率。由此产生的图谱提供了对透明和非透明层或晶圆和金属片的均匀性和质量的真实见解。这个台式设备可以根据其设置,对片状电阻、金属厚度、电阻率、电导率、电各向异性和残留水分或湿涂层厚度进行精确成像。

在线监测系统

EddyCus TF在线系列以非接触方式测量各种基质的层属性,如金属层厚度、片状电阻、发射率、残留水分或克重。相关的基底是玻璃、箔、纸、晶圆、塑料或陶瓷。监测是通过永久测量或通过触发事件来完成的,以便在快速移动的涂层过程中获得等距离的结果。监测解决方案可以在大气或真空条件下实施。使用涡流技术的过程受益于高采样率。测量结果可以通过客户的软件提供给过程控制系统。此外,SURAGUS还提供监测软件EddyCus EC Control,它可以可视化、存储和分析计量数据。

涂料重量和克重测量的好处

关于薄膜及材料重量的术语

根据沉积工艺和基材的不同,不同行业使用不同的术语来描述单位面积重量。它们分别有:

重量单位

即使克重的术语不同,但它们都描述了每一面积上增加的材料的重量。这种类型的描述有很长的历史,因为体重计已经存在了几千年。它是一个物理量值,以[质量][长度]-2 为单位给出。最常见的单位包括 g / m2(克 / 平方米)、kg / m2(千克 / 平方米)、oz / ft2(盎司 / 平方英尺)或 oz / yd2(盎司 / 平方码)。

测重技术

破坏性的 “切出法” 被应用于多个行业。在这里,从需检测材料的一个或几个位置切下 100 mm² 大小的切口。在某些情况下,如果只需要确定材料的某一部分的重量,那么通过化学过程或洗涤过程进行分离,并对重量进行相应的事前和事后测量。

非破坏性的方法是通过绝对厚度的测量,例如通过激光束三角测量或共焦显微镜或近红外吸收,将厚度与重量联系起来。另一种技术包括基于 β 射线传输的设备,需要大量的资本支出(CAPEX)和一定程度上的安全措施。最合适的解决方案取决于材料特性(电学、光学和 X 射线吸收)。各技术之间的比较将在厚度测量部分讨论。

沉积过程和测量位置

根据不同的应用和要求,正在通过真空、大气等离子体和湿法进行涂层。特别是湿法工艺,如槽模、刮刀或刮刀、浆料或旋涂,需要监控面积重量或涂层重量,最终达到符合标准的电、离子或机械性能。工艺流程通常是卷对卷(R2R)或片对片(S2S)。基材包括纸、编织品和非编织品、膜、聚合物或塑料、玻璃和金属片。面积重量的测量是在关键制造步骤之后或中间进行的。过程可能包括涂层、干燥或压延。